Defesa: Diagnóstico de falhas em circuitos analógicos utilizando inteligência de enxame

Criada em 13/12/2022 10:28 por maperna | Marcadores: defesa DETEL evento fen PEL

Convite para a defesa de Dissertação de Mestrado do Programa de Pós-Graduação em Engenharia Eletrônica, linha de pesquisa Sistemas Inteligentes.

 

Aluno: Jalber Dinelli Luna Galindo

Data: 15.12.2022

Horário: 09:30

Local: 5028 do Bloco B

 

Título: Diagnóstico de falhas em circuitos analógicos utilizando inteligência de enxame

 

Resumo:  Falhas de circuito aberto ou curto-circuito, bem como em parâmetros discretos são os modelos mais utilizados no método de simulação antes do teste. Como a resposta de um circuito analógico a um sinal de entrada é contínua, falhas em qualquer elemento específico do circuito podem não caracterizar todas as possíveis falhas de componentes. Existem três recursos importantes no diagnóstico de falhas em circuitos analógicos: identificação de componentes defeituosos, determinação de valores de elementos defeituosos e restrições de tolerância do circuito. Para resolver este problema, foram implementadas duas metodologias com técnicas de otimização para o diagnóstico de falhas: Otimização por Enxame de Partículas (PSO); e Otimização Inspirada no Comportamento dos Morcegos (BA). As equações não lineares do circuito em teste são usadas para calcular seus parâmetros. O objetivo é identificar qual componente do circuito tem potencial para apresentar a falha comparando as respostas obtidas no circuito real e a resposta obtida pelo processo de otimização. Foram utilizados dois circuitos como estudos de caso para comprovar as implementações propostas: o filtro Biquad de Tow-Thomas (circuito 1) e o filtro de ButterWorth (circuito 2). As metodologias propostas foram capazes de identificar os componentes defeituosos ou reduzir a quantidade de possíveis componentes com falhas. Foram extraídas as 4 principais métricas de desempenho utilizadas em aplicações de otimização: a acurácia, a precisão, a sensibilidade e a especificidade. A técnica do BA teve um melhor desempenho, utilizando a combinação máxima dos nós acessíveis do circuito em teste, com valor das métricas consideradas 95,84%, 81,45%, 82,16% e 97,66%, respectivamente para o circuito 1. Para o circuito 2, obteve métricas de 95,90%, 78,44%, 77,64% e 97,79%, respectivamente.

 

Comissão Examinadora:

Nadia Nedjah, Ph.D., (Orientadora), PEL/FEN/UERJ

Luiza de Macedo Mourelle, Ph.D., (Orientadora), PEL/FEN/UERJ

Fernanda Duarte Vilela Reis de Oliveira, D.Sc., UFRJ

Paulo Victor Rodrigues de Carvalho, D.Sc., IEN

 

Professor(es) ou profissionais da FEN-Uerj relacionado(s) com esta notícia


Luiza de Macedo Mourelle, Nadia Nedjah,

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pel - Mestrado em Engenharia Eletrônica
detel - Depto. de Eng. Eletrônica e Telecomunicações


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