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Inscrição de Monitoria de Modelos Matemáticos Aplicados a Engenharia Elétrica II

Criada em 02/03/2016 15:36 por academica | Marcadores: acade estag fen

SUB-REITORIA DE GRADUAÇÃO

 

EDITAL DO CONCURSO DE SELEÇÃO DE MONITORIA

 

A Direção da Faculdade de Engenharia da UERJ faz saber ao corpo discente pelo presente Edital que, no período de 03/03/2016 a 14/03/2016, no horário de 9h às 13h  e de 15h às 18h, estarão abertas na Secretaria Geral Acadêmica da Faculdade de Engenharia, Rua São Francisco Xavier, n° 524, sala 5002, Bloco B, 5° andar, telefone (21) 2334-0627 as inscrições para o concurso de seleção de monitor para a seguinte disciplina: Modelos Matemáticos Aplicados a Engenharia Elétrica II do Departamento de Engenharia Eletrônica e Telecomunicações.

 

INSCRIÇÃO

 

Poderão inscrever-se os alunos matriculados no curso de Engenharia Elétrica (qualquer ênfase) da UERJ e que atendam aos seguintes requisitos:

a)      Estarem aprovados na disciplina objeto do concurso;

b)      Não terem sofrido sanção disciplinar de suspensão há menos de 1 (um) ano;

c)      Aluno(a) participante de qualquer estágio ou bolsa poderá se inscrever mas, se aprovado, deverá pedir desligamento, caso queira assumir a monitoria.

 

SELEÇÃO

a)      O processo de seleção será realizado no dia 15/03/2016, às 14h, no seguinte local: Sala 5020E, bloco E;

b)      Processo de seleção para preenchimento de 1 (uma) vaga;

c)      Tipo de avaliação: Prova, entrevista, avaliação de currículo, histórico escolar e coeficiente de rendimento;

d)     Programa resumido: Representação e operações com sinais; energia e potência; sinais elementares; convolução; Sistemas de tempo contínuo: Classificação e propriedades; Transformada de Laplace: Definição; condições de existência; unicidade; propriedades e aplicações; Séries de Fourier: Definição, convergência, propriedades e aplicações; Transformada de Fourier: Conceito, definição, condições de existência, propriedades.

e)      Bibliografia:

LATHI, BP, Sinais e Sistemas Lineares, 2a edição, Bookman, 2007.

HAYKIN, S., VAN VEEN, B., Signals and Systems, 2nd edition, Jhon Wiley & Sons, Inc., 1999.

 

Rio de Janeiro, 01 de Março de 2016.

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